產(chǎn)品展示
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高低溫低氣壓試驗箱
用途：
高低溫低氣壓試驗箱主要用于航空、航天、信息、電子等領(lǐng)域，確定儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備在低氣壓、耐干燥、耐寒單項或同時作用下的環(huán)境適應(yīng)性與可靠性試驗，并或同時對試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測量。
特點：
內(nèi)箱：內(nèi)承壓式不銹鋼箱體
進(jìn)口制冷機組，關(guān)鍵配件均進(jìn)口國際名牌，提高運行提高靠性
中心控制器采用進(jìn)口觸摸屏人機界面，運行可靠，精度高
采用雙極旋片真空泵，極限真空度高，確保設(shè)備在整個工作使用范圍內(nèi)均能高效、穩(wěn)定地運行
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性
有工作室超溫，壓縮機過載，超壓，油壓超壓，風(fēng)機過載，缺相，壓縮機延時等保 護(hù)功能。
可選配遠(yuǎn)程監(jiān)控計算機及軟件,可連接PC電腦，也可連接觸屏控制器，上位機關(guān)機不影響系統(tǒng)控制
制冷方式：壓縮制冷方式（風(fēng)冷冷凝器）
加熱器：軍品級不銹鋼翅片加熱器
設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）
GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
GJB 150.2A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第2部分：低氣壓（高度）試驗
GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.6-1986 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 溫度-高度試驗
*安裝濕度模塊后，還可滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：
GJB 150.19-1986 溫度-濕度-高度試驗
GJB 150.24A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第24部分：溫度-濕度-振動-高度試驗
GB/T 2423.27-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Z/AMD 低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗
高低溫低氣壓試驗箱技術(shù)參數(shù):
